评论: LEICA DM-FTP膜厚仪迎接微电子业新高潮

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--[概述]-- 最近，德国LEICA推出了新一代薄膜测厚仪DM-FTP以应对微电子，半导体产业的新高潮。该膜厚仪的先进性在于：最小光斑可达1微米既使用显微光谱反射法又能使用白光干涉法进行测量半导体薄膜厚度德国LEICA顶尖的光学显微镜系统自动建模和海量光谱数据德国LEICA DM-FTP 显微光谱薄膜测厚仪是对薄膜的反射光谱的干涉图样进行 ......