评论: 赛默飞世尔科技在Pittcon 2011推出新型ARL PERFORM'X XRF

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--[概述]-- 美国佐治亚州，亚特兰大，2011年3月17日全球服务科学的领导者赛默飞世尔科技公司，在Pittcon 2011展会期间推出一款针对高端材料表征的ARL PERFORM'X XRF分析仪。ARL PERFORM'X即可以进行面扫描，也可以进行非常小的点分析，为分析各种固体和液体样品提供了无以伦比的分析性能。赛默飞世尔科技将在2011年3月13 ......