【求助】检测到扫描电镜图中晶体那个面是（100）面

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• p1900 (2016-1-03 13:23:38)

  图是看不出来的，SEM不行，要用HRTEM（高倍high resolution），就是XRD数据中有晶面间距的数值，HRTEM有文本数据，利用高倍电镜中测得的晶面间距与XRD能对应上就是那个晶面。大概就是这样的，具体的执行，我们再探讨。

• hcy517 (2016-1-03 13:24:06)

  学到不少知识，谢谢！但是我有个疑问，HRTEM只能确定某个微区域的晶面，但是并不能代表宏观材料暴露的晶面。怎么才能得到宏观材料暴露的晶面？:ha

• PP熊 (2016-1-03 13:24:32)

  学到不少知识，谢谢！但是我有个疑问，HRTEM只能确定某个微区域的晶面，但是并不能代表宏观材料暴露的晶面。怎么才能得到宏观材料暴露的晶面？

• 886爱 (2016-1-03 13:25:02)

  我不是学晶体的，现在设计到晶体长大这一块，我想请问下晶体粒度的测定可以有哪些方法？还有是通过什么来表征晶体粒度变大了，是一次粒度还是团聚后？

• huali (2016-1-03 13:25:32)

  可以用X射线衍射仪来测试晶粒粒度，要通过徳拜谢乐公式计算。

• 今生如此 (2016-1-03 13:25:59)

  SEM/TEM, DLS, SAXS, XRD线宽法(纳米至亚微米级)等。除XRD是一次粒度外，前面的一般是团聚粒度。

• 美人鱼 (2016-1-03 13:26:20)

  那看晶体是否长大，是看它的一次粒度还是看其它什么的？还有SEM/TEM放大一万倍以上也可以观察到一次粒度的大小，XRD检测到的都是纳米级粒度啊，我想做微米级的粒度检测，请教可以用什么方法检测到其粒径长大？

• jishiben (2016-1-03 13:26:50)

  SEM/TEM放大到一万倍以上观察到的未必是一次粒子。很多情况下一次粒子的粒径是不均匀的，由很多一次粒子镶嵌得很好而形成的二次粒子有时貌似一次粒子，受SEM/TEM的对比度或透射率限制不能作出准确判断。
  晶粒生长过程一般同时存在两种长大方式：晶核长大和晶粒合并聚结，前者属单晶(一次粒子)生长，后者属复晶(二次粒子)生长。要判断一次粒子粒度是否长大，最好是做不同晶化阶段粒度对比，XRD检测结合SEM/TEM应该是可行的。