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布鲁克电子显微纳米分析仪器部

20170303 AFM图像离线分析

主讲人:殷豪 高级技术支持工程师

20170303 AFM图像离线分析

【内容简介】 原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图像进行后期处理以及......

20161229 用于表征薄膜和小尺寸材料的纳米压痕和纳米划痕测试

主讲人:魏岳腾 应用科学家

20161229 用于表征薄膜和小尺寸材料的纳米压痕和纳米划痕测试

产品表面的机械性能对产品的性能、寿命等指标影响很大。其中硬度作为最基本的机械性能参数之一及其重要。常规的硬度检测方法是压痕测试,包括维氏硬度法,洛氏硬度法等等。随着产品尺寸不断减小和薄膜在产品表面越来越多的应用,常规的测试方法难以测量纳米级浅表面的硬度。纳米压痕测试以其准确测量纳米级表面硬度而备受关注。 本报告从理论和实践两方面介绍纳米压痕测试,包括原理,局......

20161227 原子力显微镜新技术与应用网络研讨会

主讲人:原子力显微镜领域专家

20161227 原子力显微镜新技术与应用网络研讨会

现代科学技术中,观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的 “眼”和“手”。因此,自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察, 生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和......

20161102 纳米红外光谱的最新技术进展及应用

主讲人:胡启池 博士

20161102 纳米红外光谱的最新技术进展及应用

在本次讲座中,我们将专门介绍AFM-IR纳米红外光谱技术工作原理和应用。 AFM-IR是利用原子力探针直接检测样品因为红外吸收而产生的热膨胀效应,样品热膨胀引起探针悬臂振荡, 其振幅和样品的红外吸收成正比。因此原子力红外直接测量到纳米尺度样品的红外吸收光谱从而进行微区化学成分鉴定, 其空间分辨率比传统的傅立叶红外(FTIR) 高两个数量级。这项技术......

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