X射线荧光仪器分析误差的来源

　　X射线荧光仪器分析误差的来源

　　X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：

　　1. 采样误差：

　　非均质材料

　　样品的代表性

　　2. 样品的制备：

　　制样技术的稳定性

　　产生均匀样品的技术

　　3. 不适当的标样：

　　待测样品是否在标样的组成范围内

　　标样元素测定值的准确度

　　标样与样品的稳定性

　　4. 仪器误差：

　　计数的统计误差

　　样品的位置

　　灵敏度和漂移

　　重现性

　　5. 不适当的定量数学模型：

　　不正确的算法

　　元素间的干扰效应未经校正