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X射线荧光仪器分析误差的来源

上一篇 / 下一篇  2011-04-18 16:03:43

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  X射线荧光仪器分析误差的来源

  X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的,BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性,已足以保证待测样品分析测量的精度,被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素,在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:

  1. 采样误差:

  非均质材料

  样品的代表性

  2. 样品的制备:

  制样技术的稳定性

  产生均匀样品的技术

  3. 不适当的标样:

  待测样品是否在标样的组成范围内

  标样元素测定值的准确度

  标样与样品的稳定性

  4. 仪器误差:

  计数的统计误差

  样品的位置

  灵敏度和漂移

  重现性

  5. 不适当的定量数学模型:

  不正确的算法

  元素间的干扰效应未经校正




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