电感耦合等离子体质谱分析技术讲座

ICP-MS分析技术讲座

1、发展历史

2、元素的同位素与天然丰度

3、ICP离子源的典型工作参数、

4、溶液中分析物被ICP离子化的历程

5、气动雾化器

6、气动雾化器堵塞时的处理方法

7、典型的等离子体炬管结构与工作原理

8、等离子体炬管和离子提取接口

9、采样锥与撇样锥

10、ICP-MS仪器上所用的典型离子透镜系统

11、ICP离子源（文字说明）

12、ICP样品离子提取系统（文字说明）

13、四极杆ICP-MS的典型离子透镜系统

14、四极杆ICP-MS的典型四极杆质量分析器系统

15、四极杆ICP-MS的分辨率与灵敏度

16、离子检测器

17、ICP-MS的数据采集

18、四极杆ICP-MS的数据采集方式

19、四极杆ICP-MS的典型总体结构

20、ICP-MS的氧化物干扰和双原子离子干扰

21、ICP-MS的多原子离子干扰

22、ICP-MS的同量异位素重叠干扰

23、ICP-MS的基体效应

24、ICP-MS测量中的物理效应

25、ICP-MS的稳定性

26、ICP-MS同位素丰度比值的分辨率

27、ICP-MS测量的校准

28、半定量分析

29、定量分析——外标法

30、定量分析——内标校正法

31、定量分析——标准加入法

32、同位素稀释ICP-MS测量——同位素稀释质谱法的基本原理

33、同位素稀释ICP-MS测量——同位素稀释分析的步骤

34、同位素稀释ICP-MS测量——同位素稀释法的优缺点