直流电弧光谱法测量氧化钨中杂质含量

上一篇 / 下一篇 2011-03-05 23:10:30/ 个人分类：光电直读

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本文采用TELEDYNE LEEMAN LABS Prodigy直流电弧光谱仪作为实验设备；仪器具有800mm 焦距光学系统和百万像素大面积程序化固态检测器（L-PAD），该检测器有效面积为28×28 mm；波长范围达到175—1100nm的连续覆盖，仪器在一次激发过程中可同时进行信号采集和背景校正，从而极大地减少了电极的消耗和样品分析时间。除此之外，检测器还具有防溢出功能并且可以进行随机读取和非破坏性数据读取，具有10个数量级以上的动态范围。

电弧激发台所带的斯托勒-沃德气室可采用各种质子流量计控制的气体来降低CN键所造成的干扰，并且提高样品激发速率。斯托伍德气室的气体流量同样通过微处理器来控制，在单次激发过程中可采用多种不同气体，并且每种气体单独控制。

在进行高纯氧化钨样品中Al、As、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V等元素分析时，基于样品组成的特殊性和复杂性，给样品前处理环节带来一定的困难，由于直流电弧光谱仪无需样品制备、直接固体分析、灵敏度、分析速度快、准确度高等优势而成为难溶粉末、高纯金属等材料分析的首选仪器。

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