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矿石元素分析仪

上一篇 / 下一篇  2010-09-07 14:36:04

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快速、高效、准确;探矿、找矿、评估的最理想工具。
 
分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。
 
SDD探测器的计数率和分辨率,远高于SI-PIN检测技术,分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低,结合FP校准模式,可检测所有矿石样品。
 
 

测量元素范围:

Mg, Al, Si, P, K,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ta, W, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ru, Rh

金属矿:钾矿、钙矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、铁矿、钴矿、镍矿、铜矿、锌矿、锆矿、铌矿、钼矿、锡矿、锑矿、矿、铪矿、钽矿、铼矿、铋矿等;

非金属矿:磷矿、硫矿、矿、矿、碘矿等;

贵重金属:金矿、铂矿、银矿、钌矿、铑矿、钯矿等。

还可分析沉淀物、填料、精矿、尾矿、矿渣中残存的矿石元素及碎片;土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油等等的固体、液体物质等;

对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。

可选台式支架确保辐射安全,对特殊样品(如袋装的)进行测量,以保护环境
 
对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析
野外操作时,自由携带,非常方便
 

 
技术规格

重量
1.5kg
尺寸
30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H)
激发源
X射线管,Ag靶,40kV
检测器
XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;
能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps 
冷却系统
Peltier半导体冷却系统
电源
交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时
工作条件
温度:-20℃~+55℃  湿度:0~95%
电池充电器
交流充电器:110/220V,50/60Hz
计算机/显示器
240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
数据传输
USB,无线蓝牙,SD卡
数据存储
主机:512MB
存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据
热表面适配器
热表面适配器,可测量500℃高温样品
安全
密码保护,设有多级安全锁
运输箱
减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言
包括中、英文在内12种语言(用户自选)
质保期
获得认证
整机2年
CE、TUV、IECEE、ISO9001
 
地址:北京市海淀区西三环北路72号世纪经贸大厦B座1808室 
电 话:010-88820040/41/42/43 传 真:010-88820045  邮 箱:postmaster@volwin.cn

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