HG-6120超声波测厚仪
上一篇 / 下一篇 2010-10-14 13:55:27/ 个人分类:仪器仪表
HG-6120超声波测厚仪
1 概述
HG-6120仪器是智能型超声波测厚仪,采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
2 技术参数
显示方法:高对比度的段码液晶显示,高亮度EL背光;
测量范围:0.75~300mm(钢中),公制与英制可选择;
声速范围:1000~9999 m/s:
分 辨 率:0.01mm
示值精度: ±(0.5%H+0.04)mm H为被测物实际厚度
测量周期:单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒;
存储容量:可存储20组(每组最多99个测量值)厚度测量数据。
工作电压:3V(2节AA尺寸碱性电池串联)
持续工作时间:约100小时(不开背光时)
外形尺寸:150×74×32 mm
整机重量:245g
3 主要功能
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度;
可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用;
具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正;
已知厚度可以反测声速,以提高测量精度;
具有耦合状态提示功能;
有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;
有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量;
具有自动休眠、自动关机等节电功能;
小巧、便携、可靠性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰;
4 工作原理
本超声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,精确地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。
式中:
H-测量厚度;
v-材料声速;
t-超声波在试件中往返一次的传播时间。
5 仪器配置
表1 仪器配置
|
序号 |
名称 |
数量 |
备注 |
标准配置 |
1 |
主机 |
1台 |
|
2 |
标准探头(5MHz) |
1只 |
| |
3 |
耦合剂 |
1瓶 |
| |
4 |
ABS仪器箱 |
1只 |
| |
5 |
随机资料 |
1份 |
| |
|
|
|
| |
可选配置 |
6 |
粗晶探头(2MHz) |
|
|
7 |
微径探头(7.5MHz) |
|
| |
8 |
高温探头(5MHz) |
|
|
表2 探头选择
名称 |
型号 |
频 率 |
探 头 |
测量范围 |
最小管径 |
特性描述 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
粗晶探头 |
N02 |
2 |
|
|
20 |
用于铸铁等粗晶材质的测量 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
标准探头 |
N05 |
5 |
|
|
Φ |
通用 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
标准探头 |
N05/90° |
5 |
|
|
Φ |
通用 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
微径探头 |
N07 |
7 |
|
|
Φ |
用于薄壁及小弧面的测量
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