V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪

V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪详解 

V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪特点

孔径分布测定仪采用与国外知名品牌产品一致的原理和结构设计，选用相同的进口核心部件，确保测试结果的准确性和可比性，提高仪器长期使用的稳定可靠性；

多项专利技术的采用，实现测试过程完全自动化和智能化，可实现夜间无人值守式自动处理和测试样品，大大降低测试人员的工作量，提高仪器使用效率；

孔径分布测定仪国内唯一采用一体化集装式真空系统产品，显著减少管路连接点，大大降低系统漏气率，提高极限真空度；

国内率先实现单台仪器上实现多样品测试和多样品处理同时进行，克服静态容量法测试效率低的缺点，提高产品性价比；

孔径分布测定仪独创的交换式冲抽气方式，有效控制冲抽气速率，彻底解决样品飞溅问题，消除测试期间样品管路污染及堵塞等隐患；

测试软件完全自主开发，功能完善，操作界面简洁，集成PID温度调节功能于软件功能模块中，实现样品处理的完全自动化和智能化.

V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪性能参数

孔径分布测定仪测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布测定,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;

测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);

测量精度:重复性误差小于1.5%;

孔径分布测定仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

孔径分布测定仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％);

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

极限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr);

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

孔径分布测定仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

V-Sorb 2800P静态法孔径分布测定仪应用领域

1) 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3) 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4) 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作.
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V-Sorb2800P静态法孔径分布测定仪