静态法4站式比表面仪

全自动静态法4站比表面仪技术参数

测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定, t－plot图法外比表面积测定

测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积)

测量精度:重复性误差小于1.5%

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6－0.995

极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命

样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

压力测量:采用原装进口压力传感器测量压力,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),压力传感器必须提供进口检测证书

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％)

全自动静态法4站式比表面仪应用领域

1) 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3) 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4) 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作。

全自动静态法4站式比表面仪详解

V-Sorb 4800S静态法4站式比表面仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测仪器,众多著名科研院所及500强企业应用案例,采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
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静态法4站式比表面仪是粉体和颗粒材料的比表面检测分析仪器，可用于电池材料比表面分析，催化剂材料比表面分析，炭黑总表面及外表面测试等，广泛适用于高校及科研院所材料