金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧! V-Sorb 2800 Series系列产品是我公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。

T图法孔隙度测定仪

上一篇 / 下一篇  2010-08-26 10:27:31 / 个人分类:全自动孔隙度测试仪

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T图法孔隙度测定仪简介

V-Sorb 4800P容量法T图法孔隙度测定仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,众多著名科研院所及500强企业应用案例;采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

全自动T图法孔隙度测定仪技术参数

孔隙度测定仪测试方法及功能:真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定

测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-2nm(微孔);2nm-500nm(中孔或介孔)

孔隙度测定仪测量精度:重复性误差小于1.5%

真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

孔隙度测定仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995

极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

孔隙度测定仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强

孔隙度测定仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差

孔隙度测定仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命

样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统必需相互独立,并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

孔隙度测定仪压力测量:采用压力分段测量的进口4支压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),2支0-10 Torr (0-1.33Kpa),必须提供进口检测证书

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)

T图法孔隙度测定仪应用领域

金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,发光稀土粉末材料,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的孔隙度测定,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量检测.
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"探索颗粒世界,我们助您做的更好" 更多的T图法孔隙度测定仪技术及产品信息,敬请参阅我们的网站    联系人:陈世野   15901380960
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T图法孔隙度测定仪是粉体和颗粒材料的孔隙度测定测量仪器,可用于无机粉体材料孔隙度分析,纳米材料孔隙度测定,磁性粉末材料孔隙度测定等,广泛适用于高校及科研院所材料

T图法孔隙度测定仪是粉体和颗粒材料的孔隙度测定测量仪器,可用于无机粉体材料孔隙度分析,纳米材料孔隙度测定,磁性粉末材料孔隙度测定等,广泛适用于高校及科研院所材料

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  • 更新时间: 2010-12-28

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