金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧! V-Sorb 2800 Series系列产品是我公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。

氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪

上一篇 / 下一篇  2010-09-07 10:52:46 / 个人分类:全自动孔隙度测试仪

文章来源
  • 文章来源:原创

氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪应用领域

1) 超微粉体,纳米材料,颗粒及纤维状材料比表面积分析测定
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测;
3) 高校及科研单位材料研究测试,吸附科学及BET理论教学实验;
4) 电池材料,催化剂,添加剂,吸附剂,陶瓷烧结材料,磁性材料,储能材料等相关性能测定;
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作

氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪性能参数

孔隙度检测仪测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径孔隙度检测,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;

比表面积检测仪测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);

测量精度:重复性误差小于1.5%;

孔隙度检测仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);

比表面积检测仪压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%);

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995;

极限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);

孔隙度检测仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);

比表面积检测仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径孔隙度检测的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

孔隙度检测仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

比表面积检测仪样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

孔隙度检测仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪详解

V-Sorb 2800P氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径测定仪器,采用静态容量法测量原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
============================================================================================================================
"探索颗粒世界,我们助您做的更好" 更多的氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪技术及产品信息,敬请参阅我们的网站    联系人:陈世野  15901380960
============================================================================================================================


氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪是粉体和颗粒材料的比表面积及孔隙度检测测量仪器,可用于无机粉体材料比表面积检测,纳米材料比表面积及孔隙度检测,磁性粉末材料孔隙度

氮化硅孔隙度检测及比表面积检测仪是粉体和颗粒材料的比表面积及孔隙度检测测量仪器,可用于无机粉体材料比表面积检测,纳米材料比表面积及孔隙度检测,磁性粉末材料孔隙度

TAG:

 

评分:0

我来说两句

显示全部

:loveliness: :handshake :victory: :funk: :time: :kiss: :call: :hug: :lol :'( :Q :L ;P :$ :P :o :@ :D :( :)

日历

« 2016-12-10  
    123
45678910
11121314151617
18192021222324
25262728293031

数据统计

  • 访问量: 6127
  • 日志数: 77
  • 文件数: 22
  • 建立时间: 2010-05-31
  • 更新时间: 2010-12-28

RSS订阅

Open Toolbar