膜厚仪

上一篇 / 下一篇  2010-11-04 15:44:47

文章来源
  • 文章来源:原创
CDNY-03AM
光学膜层厚度测量控制仪
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。

主要性能指标及技术指标

主信号通道:
信号输入方式:单端交流输入
输入量程:0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源: ≤0.2%/h
参考信号通道:

信号输入方式:单端交流输入
输入幅度:20-700mV
频率范围:≥320

调制光源
本光源是光学镀膜工艺的信号源。它具有稳定可靠、安装调试方便。聚焦光斑直径最小为φ3mm

主要数据

频率: 1000HZ±1%
500HZ±1%
250HZ±1%
焦距 200mm~4000mm

散热:轴流风机

TAG:

 

评分:0

我来说两句

显示全部

:loveliness: :handshake :victory: :funk: :time: :kiss: :call: :hug: :lol :'( :Q :L ;P :$ :P :o :@ :D :( :)

日历

« 2016-12-10  
    123
45678910
11121314151617
18192021222324
25262728293031

我的存档

数据统计

  • 访问量: 401
  • 日志数: 9
  • 建立时间: 2010-11-01
  • 更新时间: 2010-11-04

RSS订阅

Open Toolbar