膜厚仪

上一篇 / 下一篇 2010-11-04 15:44:47

CDNY-03AM
光学膜层厚度测量控制仪

CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。

主要性能指标及技术指标

主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：

信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围:≥320^。