飞行时间二次离子质谱仪简介

上一篇 / 下一篇  2010-10-16 11:21:58/ 个人分类:二次离子质谱资料

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技术指标:

Mass Resolution for low mass ion > 11.500M / ΔM for Si (28SiH+)

Mass Resolution for insulator > 10,000M / ΔM for PET (m/z 104amu)

Options C60 gun, cesium gun, oxygen gas gun, Hot/Cold stage, Transfer Vessel, 300mm stage, etc.

tof-sims谱峰也有一定的规律可循,如triton X-100一种清洗剂的商品名,在分析正离子谱图时候,往往会看到509,553,597,641,685,729,773等等,可以明显的看到,他们间 隔44分子碎片,该碎片可能是c2h4o/co2/c2h6n/ch2no等,到底是哪一种呢?这时候我们要结合负离子谱图来解释,



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引用 删除 王朝英   /   2013-01-10 19:59:32
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hitmse 引用 删除 hitmse   /   2011-04-06 17:05:36
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hongjingzi 引用 删除 hongjingzi   /   2010-10-18 15:56:52
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