二次离子质谱分析(SIMS)讲义

上一篇 / 下一篇  2010-10-16 11:22:24 / 个人分类:二次离子质谱资料

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  二次离子质谱

  (Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)

  一、简介

  二、离子与表面的相互作用

  三、溅射的基本规律

  四、二次离子发射的基本规律

  五、二次离子质谱分析技术

  六、二次离子分析方法

  七、二次离子质谱的研究新方向

  八、总结

  SIMS的主要特点:

  1. 具有很高的检测极限

  对杂质检测限通常为ppm,甚至达ppb量级

  2. 能分析化合物,得到其分子量及分子

  结构的信息

  3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素

  4. 获取样品表层信息

  5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析




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引用 删除 王朝英   /   2013-01-10 19:58:48
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引用 删除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:32
多谢楼主了
引用 删除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:12
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引用 删除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:53
谢谢了
引用 删除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:37
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引用 删除 zhouhx4713   /   2011-11-11 23:33:01
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hitmse 引用 删除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:54
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hitmse 引用 删除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:51
谢谢分享
butterfly007 引用 删除 butterfly007   /   2010-10-19 17:07:02
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hongjingzi 引用 删除 hongjingzi   /   2010-10-18 15:56:47
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