二次离子质谱(SIMS) 分析技术及应用进展

上一篇 / 下一篇  2010-10-16 11:28:31 / 个人分类:二次离子质谱资料

  • 文件版本: V1.0
  • 开发商: 本站原创
  • 文件来源: 本地
  • 界面语言: 简体中文
  • 授权方式: 免费
  • 运行平台: Win9X/Win2000/WinXP

  二次离子质谱(S IM S) 比其他表面微区分析方法更灵敏。由于

  应用了中性原子、液态金属离子、多原子离子和激光一次束, 后电离

  技术, 离子反射型飞行时间质量分析器, 离子延迟探测技术和计算

  机图像处理技术等, 使得新型的S IM S 的一次束能量提高到M eV ,

  束斑至亚Lm, 质量分辨率达到15 000, 横向和纵向分辨率小于0. 5

  Lm 和5 nm , 探测限为ngög, 能给出二维和三维图像信息。S IM S 能

  用于矿物、核物质、陨石和宇宙物质的半定量元素含量和同位素丰

  度测定, 能鉴定出高挥发性、热不稳定性的生物大分子, 能进行横向

  和纵向剖析, 能进行单颗粒物、团蔟、聚合物、微电子晶体、生物芯

  片、生物细胞同位素标记和单核苷酸多肽性分型(SN P) 测定, 能观测

  出含有2 000 碱基对的脱氧核糖核酸(DNA ) 的准分子离子峰。以

  S IM S 在同位素、颗粒物、大分子、生物等研究领域的应用为重点, 结

  合实例, 对S IM S 仪器和技术进展进行了综述




下载提示:

1.您还没有登录,只有登录后才可以下载此资源, ,
2.如果您还没有注册,请
3.下载减少用户积分。

本地下载链接

TAG: 分析技术 应用进展

butterfly007 引用 删除 butterfly007   /   2010-10-19 17:06:45
多谢楼主
hongjingzi 引用 删除 hongjingzi   /   2010-10-18 15:56:39
5
 

评分:0

我来说两句

显示全部

:loveliness: :handshake :victory: :funk: :time: :kiss: :call: :hug: :lol :'( :Q :L ;P :$ :P :o :@ :D :( :)

Open Toolbar