ICP-AES光谱干扰校正方法的研究

ICP-AES光谱干扰校正方法的研究
沈兰荪著 北京工业大学出版社
1997年出版

简介

ICP－AES（电感耦合等离子体原子发射光谱）分析技术作为一种重要的元素分析技术，在国民经济与科学研究的各个方面得到了广泛的应用，光谱干扰的校正是ICP－AES分析技术进一步发展的一个关键问题。

本书是一本关于ICP－AES分析技术的专著，研究用现代信号处理的观点与方法校正ICP－AES分析中的光谱干扰，全书共分7章，第1章绪论，第2章ICP－AES分析技术为全书的基本，第3章至第6章，分别讨论了“谱线拟合法”“自适应滤波法”“卡尔曼滤波算法”及“基于数字化谱的方法”等4种主要的校正方法，第7章为光谱干扰的实时校正。

本书可供有关专业 高校教师、研究生、高年级大学生、科研人员及工程技术人员使用。

目 录

前 言

第1章绪论
1.1ICP－AES中的光谱干扰
1.2化学计量学的发展
1.3本书内容介绍

第2章  ICP－AES分析技术
2.1原子发射光谱
2.2 ICP－AES分析仪器
  2.2.1概述
  2.2.2现代ICP－AES分析仪器的典型结构
  2.2.3ICP－AES仪器的分析性能
  2.2.4仪器函数
2.3ICP－AES中光谱干扰校正概述
  2.3.1ICP－AES中的干扰现象
  2.3.2背景干扰的传统校正方法
  2.3.3谱线重叠干扰的传统校正方法
  2.3.4传统校正方法的改进
2.4讨论

第3章 谱线拟合法
3.1光谱干扰的数学模型
3.2谱线拟合的数学基础
  3.2.1Cauchy法
  3.2.2直接搜索法
  3.2.3Newton－Raphson法
  3.2.4单纯形法
  3.2.5广义最小二乘法
  3.2.6Davison法
3.3DFP法用于光谱干扰的校正
  3.3.1DFP法［87］
  3.3.2模拟数据
3.4基于非线性最小二乘法的光谱干扰校正
  3.4.1约束条件的处理
  3.4.2迭代过程
  3.4.3模拟数据
  3.4.4实测谱图分析
3.5讨论

第4章 自适应滤波法
4.1Widr0w自适应噪声抵消模型
4.2自适应滤波参考输入的选取
4.3LMS算法［138，96，158～161］
4.4LS算法［138，162，163］
4.5自适应滤波法用于背景干扰的校正［98，101，103］
   4.5.1模拟数据
   4.5.2实测谱图分析
4.6自适应滤波法用于谱线重叠干扰的校正［99，102，103］
   4.6.1自适应谱线抽取模型的提出
   4.6.2模拟数据
   4.6.3实测谱图分析
4.7ICPAES自适应分析法
   4.7.1算法公式
   4.7.2模拟数据
   4.7.3实测谱图分析
4.8用多通道系统识别方法分离光谱重叠峰［91，105］
   4.8.1多通道系统识别模型
   4.8.2识别算法
   4.8.3模拟数据
   4.9讨论

第5章 卡尔曼滤波算法
5.1 Van Veen的卡尔曼滤波算法
5.2 Van Veen的卡尔曼滤波算法的模型误差
5.3 ICP-AES加权增量卡尔曼滤波算法
5.4 讨论

第6章 给予数字化谱的方法
6.1  数字化谱的获取
6.2  模式识别用于光谱分类与识别
6.3  高维数据的降维处理
6.4  因子分析处理数字化谱

第7章 光谱干扰的实时校正
7.1 微电子技术的发展
7.2 ASIC电路的兴起
7.3 WSI技术与三维集成技术
7.4 表面安装技术
7.5 计算机技术的发展
7.6 DSP芯片的进步
7.7 采用TMS320C20的光谱干扰实时校正系统
7.8 采用Transputer的光谱干扰实时校正系统
7.9 讨论

参考文献