Xevo G2-S Tof 产品手册

Xevo^® G2-S Tof是一款飞行时间质谱仪，是专门针对最复杂和最具挑战性的样品所设计的，科学家们可以从中鉴定、定量及确证广泛类型的化合物。

Xevo G2-S Tof内含StepWave™离子光学系统，因此具有无法超越的稳定灵敏度，而且Xevo G2-S Tof采用了定量飞行时间(QuanTof™)技术，使其同时兼具以下多项卓越性能，包括可与UPLC^®兼容的质谱高分辨率、可耐受基质的动态范围、可靠的定量结果、精确质量数的测定，以及可快速进行分析等等。

Xevo G2-S Tof结合UltraPerformance LC^®技术，可产生最全面的、高质量信息，使您能够快速、准确地作出正确判断。