XGT-5200 X射线分析显微镜样本

独特的X光管，台式XGT - 5000系统允许高空间分辨率的X射线荧光分析-从1.2毫米到10微米。无需任何样品制备或真空需要-样品仅仅是放置在样品室，然后在正常大气压力下分析。完全整合的软件控制样品移动，获取选择和数据分析（包括定性和定量分析，并组成图像生成）。从把样品放在样品祥中，只需几秒钟，开始数据抓取，借助直观的“point and click”选择分析位置。样品用同轴几何显象，删除视差。您绝对理由相信，您看到的正是您样品。整套系统提供了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管的高强度的光斑传递确保了最低的数据获取时间。单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。通过自动采样扫描很容易获得XRFmapping，并提供样品下方第二次信号检测，能同时收集了X射线透射图像。这项技术的额外的结构信息有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。

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