JEOL透射电镜规格表
相关产品
产品 | 最高加速电压 | 电子枪 | 备注 |
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JEM-3200FS |
300kV | 肖特基电子枪 |
场发射电子显微镜在高分辨率成像和纳米领域的分析中充分发挥着高性能。 JEM-3200FS采用 300 kV的场发射电子枪和内置式能量过滤器。 最新设计的磁转角修正系统,不但有利于获得高质量的透射图像和衍射像,而且可以得到稳定的分析谱数据。 300 kV的场发射电子枪和内置式能量过滤器相结合,为广泛的研究领域提供了许多新的解决方案。 |
JEM-3100F |
300kV | 肖特基电子枪 |
现代电子显微镜能整合各种成像设备和分析仪器,分析纳米区域的形态、结构和化学状态。 这一优势使研究人员的期望不断增长。 JEM-3100F能实现高分辨率成像,形成纳米尺寸的探针。 此外,JEM-3100F拥有友好的操作工具,可以顺利地操作带有各种附件的TEM和具有可扩展性的系统。 这一先进的分析型TEM,能准确、高效地从纳米材料中获取有价值的信息。 |
JEM-ARM200F |
200kV | 肖特基电子枪 | JEM-ARM200F配有球差校正器,镜筒的机械性和稳定性显著提高,达到了商业化透射电镜世界最高的0.08 nm的 STEM (HAADF)分辨率,经过球差校正的极细的电子探针,电流密度明显提高,比传统的透射电镜高出一个量级,因此, JEM-ARM200F能进行终极原子水平的分析,通量高并且还大幅度地缩短了测试时间。 |
JEM-2200FS |
200kV | 肖特基电子枪 |
JEM-2200FS场发射电子显微镜配备了200 kV 场发射枪,优化配置的新型能量过滤器,用于元素分析和样品台分析。 使用新设计的磁转角修正系统,很容易地比较透射图像和衍射像。 由于JEM-2200FS能观察大视野的能量过滤图像,与断层扫描功能(选项)组合使用,可以获取大视野、高衬度的三维信息。 |
JEM-2100F |
200kV | 肖特基电子枪 |
JEM-2100F的场发射电子枪(FEG),能提供高亮度和高相干性的电子束,这是进行高分辨率观察和纳米区域分析所必不可少的。 JEM-2100F,采用了先进的数字化操作,是一款能充分发挥其各种功能的集成化透射电镜。 |
JEM-2800 |
200kV | 肖特基电子枪 |
JEM-2800是一款新型透射电子显微镜,能实现纳米区域的分析,自动、方便、易于使用,任何技能水平的操作者都能得出与专家相同的结果。 JEM-2800先进的电子光学系统可以对同一样品进行高分辨率的TEM和STEM成像及EDS、EELS、断层扫描和原位观察,而不牺牲其中任何的功能。 |
JEM-1400Plus |
120kV |
工厂预对中发夹形钨灯丝 六硼化镧电子枪(STEM配置) |
JEM-1400Plus是专为多领域的研究而开发的透射电子显微镜,从生物领域到聚合物、纳米技术、最先进的材料领域,应用范围非常广阔,它为TEM操作提供了最优化的新环境。 |
JEM-2100 |
200kV | 六硼化镧电子枪 |
JEM-2100是新一代的200kV分析型电子显微镜。 JEM-2100采用了各种功能一体化的计算机管理系统,具有极佳的性价比,支持生物技术、材料科学等广泛科学领域的研究和开发,。 |