JEOL公司透射电镜JEM-ARM200F

JEOL宣布于2009年3月份推出一款JEM-ARM200F的透射电镜，在JEM-ARM200F的电镜的光学系统内配有球面象差校正器。

产品背景

透射电镜一般是用来观察物质的内部超微结构的，也可以分析物质的组成和电子的状态，当然这种观察要配有X射线能量色散谱仪（EDS）和电子能量损失谱仪（EELS）才能实现。

最近有一项新的技术用于球面象差校正器中，解决了长期限制透射电镜分辨能力的问题。球面象差校正器大大提高了分辨率和分析能力，甚至达到终极原子水平的分析。JEM-ARM200F是一款功能强大的，配有标准球面象差校正器的透射电镜，使电镜分析达到亚埃原子分辨水平。

产品特性

原子水平分辨率 -STEM: 0.08 nm，TEM：0.11 nm；

标准球面象差校正器最大程度降低球面误差；

最大激发电压大200kV；

JEOL 公司简介

JEOL主要生产电子光学设备和工业及科学研发中高端设备，是全世界在这一领域的领军厂商。主要产品包括电子显微镜（透射电镜和扫描电镜），半导体工业用设备（电子光束光刻技术和一系列产品监察设备），和分析设备包括质谱仪，NMR（核磁共振谱仪）和ESR（电子自旋共振仪）等。