JEOL公司透射电镜JEM-ARM200F
发布: 2009-05-11 17:26:14来源: 日本电子株式会社(JEOL)
JEOL宣布于2009年3月份推出一款JEM-ARM200F的透射电镜,在JEM-ARM200F的电镜的光学系统内配有球面象差校正器。
产品背景
透射电镜一般是用来观察物质的内部超微结构的,也可以分析物质的组成和电子的状态,当然这种观察要配有X射线能量色散谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS)才能实现。
最近有一项新的技术用于球面象差校正器中,解决了长期限制透射电镜分辨能力的问题。球面象差校正器大大提高了分辨率和分析能力,甚至达到终极原子水平的分析。JEM-ARM200F是一款功能强大的,配有标准球面象差校正器的透射电镜,使电镜分析达到亚埃原子分辨水平。
产品特性
原子水平分辨率 -STEM: 0.08 nm,TEM:0.11 nm;
标准球面象差校正器最大程度降低球面误差;
最大激发电压大200kV;
JEOL 公司简介
JEOL主要生产电子光学设备和工业及科学研发中高端设备,是全世界在这一领域的领军厂商。主要产品包括电子显微镜(透射电镜和扫描电镜),半导体工业用设备(电子光束光刻技术和一系列产品监察设备),和分析设备包括质谱仪,NMR(核磁共振谱仪)和ESR(电子自旋共振仪)等。
厂家名称
日本电子株式会社(JEOL Ltd., )在各地设有服务机构,能够迅速、妥善地应对全球客户的需求。我们的目标旨在为所有顾客提供满意的、具有一贯服务能力的服务体系。JEOL目前面向中国及全球,生产销售各型扫描电子显微镜、透射电子显微镜、电子探...