世界首台JEM-ARM200F获得惊人结果
发布: 2010-02-23 14:22:05来源: 日本电子株式会社(JEOL)
世界首台JEM-ARM200F获得惊世图像堪比哈勃望远镜
2010年1月开始在University of Texas at San Antonio安装的世界首台JEM-ARM200F在2月初已获得惊人结果。
能在短短3周内就能获得至少78皮米分辨率彰显了该仪器的超级稳定性和UTSA-JEOL出色的合作与技巧。
世界著名显微学及纳米技术学者,UTSA物理与天文系主任( physics and astronomy department chair )Dr. Miguel Yacaman亲自与JEOL的技术人员合作,见证了这一惊世结果。
Yacaman说“有了这种水平的电镜,应用潜力巨大”, 他还将JEM-ARM200F 比作探索银河系奥秘的哈勃望远镜。
ARM200F展现了日本电子株式会社(JEOL) 60年以上透射电镜研发的经验,该仪器已将球差校正器与电镜本体彻底融合,实现了超级电子光学能力和超强的抗干扰能力。
JEM-ARM200F 具有原子间图像分辨率(atom-by-atom imaging resolution )和无与伦比的原子间空间分辨率(unmatched spatial resolution for atom-to-atom chemical mapping of materials)。
厂家名称
日本电子株式会社(JEOL Ltd., )在各地设有服务机构,能够迅速、妥善地应对全球客户的需求。我们的目标旨在为所有顾客提供满意的、具有一贯服务能力的服务体系。JEOL目前面向中国及全球,生产销售各型扫描电子显微镜、透射电子显微镜、电子探...