日本电子株式会社推出最新场发射透射电子显微镜
发布: 2006-04-20 15:29:32来源: 日本电子株式会社(JEOL)
摘要
2006年4月17日,JEOL Ltd.总裁Yoshiyasu Harada宣布,日本电子在全世界同步推出最新型号的300kV场发射透射电子显微镜——JEM-3100...
2006年4月17日,JEOL Ltd.总裁Yoshiyasu Harada宣布,日本电子在全世界同步推出最新型号的300kV场发射透射电子显微镜——JEM-3100F。
JEM-3100F分辨率达到0.17nm(300kV,UHR),是同档次世界上最先进的透射电子显微镜,尤其在纳米材料测试方面,具有非常高的效能。它的控制系统采用了最新的数字技术,使得操作更为简便。该款产品同样适合于过程测试,可以对由聚焦离子束切割的相对较厚的半导体器件进行高通量检测。
厂家名称
日本电子株式会社(JEOL Ltd., )在各地设有服务机构,能够迅速、妥善地应对全球客户的需求。我们的目标旨在为所有顾客提供满意的、具有一贯服务能力的服务体系。JEOL目前面向中国及全球,生产销售各型扫描电子显微镜、透射电子显微镜、电子探...