天瑞仪器 贵金属检测 Thick 680X荧光光谱仪

X荧光光谱仪（简称XRF），它是由X光管发射的X射线,经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上，样品受到激发，随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束，进入探测器，探测器具有能量分辨能力，可以甄别样品所发射的不同能量特征的X射线荧光，探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置，由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能量成正比，因此可以得到定性、定量分析的能量谱图，经过计算机处理，得出定性、定量的结果。

仪器简介：

Thick 680 是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

技术参数：

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

主要特点：

专业贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途