AFM及扫描探针Bruker第八代多功能扫描探针显微镜布鲁克 可检测在aeronautics, bicycle frames, and golf clubs

布鲁克AFM及扫描探针Multimode8可以用在多个行业领域，用来检测抛光的连接部分carbon/epoxy 组成，在aeronautics, bicycle frames, and golf clubs，可完成localized studies of relative difference in surface elasticity with nanometer-scale resolution项目。符合多项行业标准科研。

Force modulation imaging is an atomic force microscopy (AFM) technique that identifies and maps differences in surface stiffness or elasticity1. It is one of several techniques developed as extensions of AFM. These techniques probe various surface properties to differentiate between the different materials that make up heterogeneous surfaces. Force modulation imaging has many applications, including locating transitions between different components in composites, rubber, and polymer blends; imaging organic materials on hard substrates; detecting residual photoresist on integrated circuits; and identifying contaminants on various surfaces.

AS-130系列：横向(X-Y)范围125um×125um,竖直(Z)范围5.0um

PF50：横向(X-Y)范围40um×40um,竖直(Z)范围20um

2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)

3. 样品大小：直径&le;15mm, 厚度&le;5mm

4. 针尖/悬臂支架：

• 空气中轻敲模式/接触模式(标准)

• 液体中轻敲模式/力调制(可选)

• 空气中力调制(可选);电场模式(可选)

• 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)

• STM转换器(可选)

• 低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选)

• 电化学AFM或STM液体池(可选)

• 扭转共振模式(可选)

5. 防震和隔音：

• 硅胶共振模式(可选)

• 防震三脚架(可选) ;防震台(可选)

• 集成的防震台和隔音罩(可选)

主要特点：

　　1. 世界上zei高的分辨率

　　2. 出众的扫描能力

　　3. 优异的可操作性

　　4. 非凡的灵活性与功能性

　　5. 无限的应用扩展性

Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：

• 轻敲模式(Tapping Mode AFM)

• 接触模式(Contact Mode AFM)

• 自动成像模式(ScanAsyst)

• 相位成像模式(Phase Imaging)

• 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)

• 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)

• 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)

• 力调制(Force Modulation)

• 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)

• 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)

• 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)

• 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)

• 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)

• 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)

• 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)

• 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)

• 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)

• 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)

• 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)

• 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)

• 其他更多模式....

　　布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑

　　Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash; 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看zei新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中!

　　http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy

　　MultiMode平台是世界上应用zei广泛的扫描探针显微镜(SPM)，已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的 ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中zei迅速地获得符合要求的研究成果。

　　SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的zei先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式& PeakForce QNM 模式。

　　Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35℃到250 ℃范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

　　技术参数：

1、显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头

AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4um × 0.4um,竖直(Z)范围0.4um

AS-12系列：横向(X-Y)范围10um×10um,竖直(Z)范围2.5um

AFM及扫描探针Bruker第八代多功能扫描探针显微镜布鲁克 可检测在aeronautics, bicycle frames, and golf clubs信息由布鲁克电子显微纳米分析仪器部为您提供，如您想了解更多关于AFM及扫描探针Bruker第八代多功能扫描探针显微镜布鲁克 可检测在aeronautics, bicycle frames, and golf clubs报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途