仪器规格：

● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）

● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）

● 仪器重量：50kg

● 供电电源：AC220V/ 50Hz

● 最大功率：330W

● 工作温度：15-30℃

● 相对湿度：≤85%，不结露

仪器应用领域：

● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

仪器硬件配置：

探测器

● 类型：X123探测器（原装进口高性能电致冷半导体探测器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● 最佳分辨率：145eV

●信号处理系统：DP5

X射线管

●电压：0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材：Mo

●Be窗厚度：0.2mm

●使用寿命：大于2w小时

高压电源

●输出电压：0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率：50w

●纹波系数：0.1%（p-p值）

●8小时稳定性：0.05%

摄像头

●焦距：微焦距

●驱动:免驱动

●像素：500万像素

准直器、滤光片

●系统：快拆卸准直器、滤光片系统

●材质：多种材质准直器

●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

十字激光头

●光斑形状：十字线

●输出波长：红光650nm

●光学透镜：玻璃透镜

●尺寸：Φ10×30mm

●发散角度：0.1-2mrad

●工作电压：DC 5V

●输出功率：<5mW

●工作温度：－10～50℃

其它配件

●开关电源：进口高性能开关电源

●散热风扇：进口低噪声、大风量风扇

产品特点：

1.1全自动三维样品台

1.2 X射线向下照射式，激光对焦

1.3小光斑设计

1.4测试时间灵活性调节

1.5多规格样品仓

1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。

禾苗HELEEXE3-3D镀层测厚仪信息由深圳市禾苗分析仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于禾苗HELEEXE3-3D镀层测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途