意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商,其X射线产品线诞生于1966年,经过半个多世纪的开发和研究,该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。
X射线衍射仪(XRD)可测试粉末、薄膜等样品的晶体结构等指标,多应用于分子结构分析及金属相变研究;而全反射X荧光光谱仪(TXRF)的检测限已达到皮克级别,其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中,涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业;为迎合工业市场需求而设计制造的专用残余应力分析仪、残余奥氏体分析仪,近年来被广泛应用在高端材料检测领域,其操作的便捷性颇受行业青睐。
本期我们将带来如下7篇文章:
通过XRD图谱确定样品结构
空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法
Horizon对固废焚烧物中元素含量的检测及前处理方法比较
残余应力的消除
磨削裂纹发生的原因
残余奥氏体对各种零件的影响
YB∕T 5338—2006方法测试奥氏体含量的误差影响
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