多层材料的ATR红外光谱成像分析

　　高分子多层材料在很多领域都有着广泛的应 用，而这些材料的结构和成分也是多种多样。 高分子多层材料中每一层的厚度变化范围很 应 用 文 章 大，可以从不足4微米到几十微米甚至更厚。作为研究这类材料的方法，显 微红外光谱以及显微拉曼光谱等方法得到了较多的应用1。 相比于其他显微傅里叶变换红外光谱分析方法，ATR光谱成像是一种具有 更多优势的比较新颖的技术，在多层材料研究中将会非常有意义。以前为 了成功实现透射显微红外光谱测量，需要将样品切成薄片（厚度在10微米 左右）以避免产生过强的红外吸收。从实际操作的角度上看，这种样品处 理方法的难度较大，也很难保持样品的完整性。另外，不管使用哪种显微镜，在高度聚焦的红外光束中放入有限厚度的样品，都可能会影响实际所 能达到的空间分辨率2。