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ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)
钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金,所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要,所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。
Optima 8300 ICP-OES 等离子体发射仪
型号:Optima 8300
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PerkinElmer Optima 8000 等离子体发射光谱仪
型号: Optima 8000
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