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| 参考报价： | 面议 | 型号： | XPIN-XT |
| 品牌： | Moxtek | 产地： | 美国 |
| 关注度： | 17 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 区域代理 | 产地类别 | 进口 |
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Moxtek公司生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。
XPIN-XT探测器主要技术指标
有效探测面积：6 mm2 、 13 mm2
硅片厚度：450um、625um
铍窗厚度：8um、25um
准直器材料：W/Co/Ti/Al
能量分辨率：6 mm2 < 170eV FWHM
13 mm2: < 230eV FWHM
峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical)
13mm2: 3000/1 @1keV (typical)
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
