SFT9000系列中zei高级的机型「SFT9400系列」
搭载有75W高功率X射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管)，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。
此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi)

X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 
                   管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗

滤波器：一次滤波器：Mo

照射方式：上方垂直照射方式

检测器：比例计数管+半导体检测(无需液氮)

准直器：圆形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm

安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能

样品图像对焦方式：激光自动对焦

样品观察：彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明

样品平台大小及承重：    SFT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg
                                               SFT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg
                                               SFT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg

重量：SFT9400/SFT9450:125kg (不含电脑) 
             SFT9455:130kg(不含电脑)

修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正

测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 
                                  测量能谱与样品图像保存功能

1. 搭载有高功率X射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管)
    可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
    能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
    对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 
    可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度
2. 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
    对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
3. 适用超微小面积的测量
    标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。
4. 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
5. 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板(SFT9455)
6. 自动对焦功能 
     配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
7. 搭载测试报告自动生成软件

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途