磁光克尔效应测量系统

品简介

磁光克尔效应测量系统

市场上配置最灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE

当聚焦激光束照射磁性材料（主要是磁性薄膜）时，因纵向磁光克尔效应和极向磁光克尔效应会造成激光偏振态变化（克尔偏转角变化），磁光克尔效应测量系统u-MOKE就是一套精确测量克尔偏转角变化的设备。

磁光克尔效应测量系统u-MOKE通过装备的极向/面内磁体产生磁场测量偏振态的变化，可以测量分析磁性材料um量级局部区域的磁学特性。

磁光克尔测量装置，MOKE，NanoMOKE，极向克尔效应，纵向克尔效应，横向克尔效应，表面磁光克尔效应，克尔磁光效应,磁畴测量，磁滞回线测量，材料磁性测量

应用：

n  基于极向克尔效应与纵向克尔效应的微观局部磁性分析

n  适用于磁象和磁性薄膜的um尺寸灵敏度分析

n  主要参数：
光源：半导体激光器（典型405nm）

n  光斑直径：纵向测量：约5um

极向测量：约2um

n  探测灵敏度：±0.005°

n  探测范围：±1°

n  磁场：极向磁体：>±10kOe

面内磁体可选

测量项目：

磁滞回线：X轴：外加磁场H

           Y轴：克尔信号θk

获得关键值（from磁滞回线）：矫顽力Hc

                             各项异性场Hk

                             反向磁化Hn

                             饱和磁场Hs

剩余磁化强度θr

饱和磁化强度θs

同类产品系列：

高灵敏度磁光克尔效应测量系统——灵敏度0.001°

时间分辨磁光克尔效应测量系统——时间分辨率50ps

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途