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瑞德科图（北京）科技有限公司
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| 参考报价： | 750000 RMB（人民币） | 型号： | AWS X4 |
| 品牌： | AWSensors | 产地： | 西班牙 |
| 关注度： | 19 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 区域代理 | 产地类别 | 进口 |
| 仪器原理 | 生物膜干涉BLI | 价格范围 | 50万-80万 |
| 检测范围 | 8pg/cm2 | 温控范围 | 15°-45°，精确度为0.5℃ |
| 分析时间 | ～10s | 进样体积 | ～5.5μl |
| 样本容量 | ～50μl |
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创新点：
结合常规QCM芯片、高频QCM芯片与叉指换能器芯片 微流控系统集成了样品、缓冲试剂与废液处理功能 可对试剂和样品分别控温 测试系统配置灵活，1-4个通道 具有倍频操作模式，测试频率高达5-160MHz，灵敏度可达0.05ng/cm2。
产品型号：AWS X4
X4系列耗散型石英晶体分析仪基于专利的QCM-D技术，可精确测量石英芯片表面质量和结构变化，提供实时的表面相互作用信息，如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等。
QCM-D技术基于声波在石英芯片本体和表面传播的性质变化，精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。 当芯片表面发生吸脱附反应时，表面波的频率和振幅将发生变化。
当吸脱附反应发生在芯片表面时，表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时，频率变化正比于质量变化，根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量。
吸附膜为柔性膜时，通过测量频率和耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息。
AWS X1耗散型石英晶体分析仪在倍频下同时监控频率和耗散变化，可以给出吸附膜的质量、粘度、弹性模量、粘性模量和厚度等信息。结合常规QCM芯片、高频QCM芯片和叉指传感器芯片，可精确检测声波在石英本体与表面的传播变化，提高测试的可靠性。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
