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仪思奇（北京）科技发展有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | Vasco Kin |
| 品牌： | 法国Cordouan | 产地： | 法国 |
| 关注度： | 暂无 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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点击查看下载激光粒度仪Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。
本文介绍了用于原位纳米粒度分析的唯一远程光纤探头技术VASCO KinTM。由法国高端技术公司（CORDOUAN Technologies）开发的VASCO KinTM是一款功能全面的纳米粒度分析仪，它利用先进的单模光纤技术将DLS测量导入到你的过程监控。创新的光纤远程探头(下文介绍其原理)使VASCO Kin能够非常简单地结合到你现有的实验装置上(如合成反应器或小角X光散射SAXS系统)，给用户提供了最大的测量灵活性，以监测和改进其工艺过程的颗粒粒度随时间或反应条件的变化。
适用样品浓度：0.1ppm-40%（w/v）
时间分辨: DLS的分辨率为0.2s，用于动力学监测
随时间变化的粒度分布彩色地形图
“时间切片”功能：用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析
样品前处理：无需样品前处理，直接测试
硬件规格（核心单元）：
1. 激光源： 高稳定性激光二极管（可选蓝光和绿光）
2. 探测器： 无伪影雪崩光电二极管（APD）
3. 计算设备： 内嵌专用电脑
4. 数据处理： NanoKin® 相关和分析软件
5. 典型测量时间：最快200ms。测量时间由样品和测量设置决定
6. 操作条件/存储条件：15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 < 70%
7. 尺寸/重量： 220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg
220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg
Nano Kin™软件的主要特点：
- 三个层级登录配置文件：管理员、专家、操作员
- 运行模式：包括测量、模拟、后分析（导入）
- 直观导航（顺序）
- 时间切片和动力学模式：独特的技术，允许监测快速动力学和/或准确的再现性测量（时间分辨率高达200毫秒）。
- 可读数据和绘图：
- 动态导出数据/绘图（右键单击到剪贴板）
- 报告文件格式：.pdf或.rtf（兼容writer软件）
- 反转算法：
- CUMULANTS 累积量算法：用于具有单分散趋势的单峰样品
- PADE-LAPLACE算法（专有）：多峰样品的离散数学方法。
- 稀疏贝叶斯学习算法（SBL；专有）：多峰样品的连续分布数学方法。对于所期望的分布斜率不需要先验知识，正则化参数自学习概率计算模块。
Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析是新一代动态光散射纳米粒度分析仪，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量，与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。
粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm
背向动态光散射原理，实时远程非接触测量
监测纳米颗粒合成过程；监测整个过程的粒度变化情况，有助于稳定性研究
全自动非接触测量：能穿透玻璃和塑料针管，测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化
激光粒度仪Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪 应用于地矿/有色金属信息由仪思奇（北京）科技发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于激光粒度仪Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪 应用于地矿/有色金属报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
