菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。

XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行精确微调。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

XDV-SDD最多可同时测定从铝（13）到铀（92）中的24 种元素

测量门向上开启的台式仪器，侧面开槽设计

马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 

马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

仪器配备带铍窗口的微聚焦钨管，三挡可调节高压，6个可切换的基本滤片。

可按要求，提供额外的XDV 型产品更改和XDV 仪器技术咨询

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途