低压熔断器触头性能测试台

本低压熔断器触头性能测试台完全满足新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求，用于模拟熔断器在严酷使用条件下，验证长期运行中不受扰动的触头性能损坏情况。

主要技术参数：

1. 设备输出电压：0~690V；

2. 设备输出电流：0~5000A；

3. 通电时间：1~9999s；

4. 断电时间：1~9999s；

5. 试验样品：3组；

6. 试验循环次数：1-800次可设置；

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设备满足标准：

低压熔断器触头性能测试台完全满足新国家标准IEC60269-1：2009、GB13539.1-2015（低压熔断器第1部分：基本要求） 标准中第8.10章节“触头不变坏验证”的试验要求。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途