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参考报价: | 面议 | 型号: | MicroNano |
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一、简介
磁力显微镜(MFM)是原子力显微镜派生出来的一系列力显微镜之一,是基于原子力显微镜的二次成像技术,即抬起模式,所不同的是磁力显微镜使用磁性探针。磁力显微镜(MFM)采用磁性探针对样品表面扫描检测,该工作模式分两个阶段,第一阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样,在探针与样品间距1nm以内成像,采用轻敲模式,得到样品表面高低起伏的形貌像并记录下来;
然后,将探针抬起并一直保持一定的高度(通常为10~200nm),进行第二次扫描,该扫描过程可以对一些相对微弱但作用程较长的作用力进行检测,如磁力和静电力。当振动的针尖接近磁性样品时,针尖与样品所产生的漏磁场(或者说样品中的磁畴结构)相互作用而感受到磁力,使得微悬臂的共振频率或弯曲程度发生变化,从而改变其振幅和相位。振荡微悬臂的相位角及对应的微悬臂压电驱动器信号,同时被EEM(extender electronics module)记录,它们之间的差值变化用来表征样品的磁结构。
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