ATR衰减全反射探头

ATR衰减全反射探头

Attenuated Total Reflectance Probe ATR探头是测量吸光率在4000-5000 AU/cm 的样品的理想产品。它能够直接插入样品中，不需要稀释样品就能获得光谱。典型的应用包括纯墨水样品、染色样品和原油样品的测量。另外，如果探头顶部的接触样品的折射率大于ATR探头的蓝宝石晶体的折射率，或大于1.7，ATR探头可用作通用探头。

ATR探头被设计用于工业过程应用，曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头，并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。

应用场景

ATR(attenuated total reflection,衰减全反射), 
定义：入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场（见衰减波）量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离元（SP）或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。 
利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。 
应用：ATR在实际应用中，作为红外光谱法的重要实验方法之一，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要通过透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成份的结构信息。不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围。使许多采用传统透过法无法制样，或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。

详细参数

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途