CAMECA 推出 Invizo 6000 和 LEAP 6000 XR 原子探针

CAMECA推出Invizo 6000 和 LEAP 6000 XR  原子探针

-- 最新一代原子探针断层扫描仪器的成功历史 --

威斯康星州麦迪逊 2021 年 12月6日，继 2003 年引入局部电极原子探针 （LEAP） 之后，原子探针断层扫描 （APT） 已成为一种标准的材料科学方法，能够对金属和合金、陶瓷、半导体、生物材料和地质材料进行 3D 纳米级成分表征。 CAMECA是AMETEK 阿美特克公司的一个业务部门，它自豪地宣布推出两个新的原子探针断层扫描平台，Invizo 6000 和 LEAP 6000 XR。 在威斯康星州麦迪逊的原子探针技术中心开发的新仪器继续推进e CAMCA 作为原子探针断层扫描领域的世界领导者的地位。

“自从开发出革命性的局部电极原子探针以来，CAMECA一直处于APT仪器设计的最前沿。 Invizo 6000 和 LEAP 6000 XR 原子探针的主要新功能有望在全球学术实验室和制造设施中进一步推进这一研究技术。

Invizo 6000是仪器系列的最新成员，采用了突破性技术，包括获得专利的静电技术，可增加视野; 深紫外 （DUV） 激光模块; 先进的光束传输光学器件，可实现双面样品激光照明;以及新的提取电极设计。 Invizo 6000 提供更大的分析体积，以捕获更大的感兴趣特征并改进分析测量，适用于各种应用，如冶金、地球科学、电池和 半导体。

LEAP 6000 XR 是 LEAP 原子探针系列中的最新仪器，它建立在 LEAP 平台久经考验的实用性 之上 ，可提供分析准确性和精密度，同时保持支持高样品量环境所需的微量针尖兼容性和自动化。 激光-试样-电极对准的自动化提高了试样通量和易用性， 6000 XR 增加了 DUV 激光脉冲，可 提高数据质量和试样产量。 此外，还引入了 一种新颖的同步电压激光脉冲模式，将检测灵敏度提高一个数量级，从而增强 了在半导体中的应用。