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| 参考报价： | 面议 | 型号： | JXA-iHP200F |
| 品牌： | 日本电子 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 24 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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发布时间：2023年05月
JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。
检测元素范围 | WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U |
检测X-ray 范围 | 波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范围EDS: 20 keV |
谱仪数 | WDS: 最多5个可选, EDS: 1个 |
最大样品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
加速电压 | 1 to 30 kV (0.1 kV steps) |
探针电流范围 | 1 pA to 3 μA |
探针电流稳定性 | ± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2 |
二次电子像分辨率（观察模式） | 2.5 nm |
二次电子像分辨率（分析模式下）
| 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA） |
扫描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
扫描图像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |
JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪信息由广州文明机电有限公司为您提供，如您想了解更多关于JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
