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工商注册信息已核实!4月11日,香港科技大学(广州)材料表征与制备中央实验室 (MCPF) 成功举办了一场关于最新表面分析技术的学术沙龙。本次研讨会的主题为 “Hybrid SIMS: 具有高质量分辨能力的二次离子质谱成像技术 "(Hybrid SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) Imaging with High Mass Resolving Power)。
IONTOF资深工程师Sven讲解Hybrid SIMS仪器工作原理和应用案例
Hybrid SIMS仪器是由IONTOF公司开发的,由飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)与轨道离子阱(Orbitrap)质谱仪有机结合而成,能够进行材料的超高质量分辨率质谱测量以及高空间分辨率的二维/三维质谱成像实验。
此次研讨会特邀IONTOF资深工程师Sven Kayser 做报告,他向参会者祥细地介绍了Hybrid SIMS的设计概念、工作原理以及在不同领域的应用案例,例如对纹身颜料的定位和鉴定、皮肤横断面的成像、番茄横切面中番茄碱的分析以及半导体材料深度分析等。本次研讨会是前沿技术与交叉学科的融合,为材料科学、生物学、环境学、食品学、药学、信息学等各个领域的研究人员提供新的研究手段。
标签: | ToF-SIMS, Hybrid SIMS, 飞行时间二次离子质谱, 香港科技大学, 北京艾飞拓 |