劳厄系统 晶体定向与特性分析

劳厄系统 晶体定向与特性分析

  数字化X射线劳厄解决方案

• 系统采用独特的背向散射角度采集和最终对准精度可以低至0.2度（高端需求可达0.02度），与高灵敏度偏振片相比，曝光时间可减少2个数量级以上，实现实时劳厄图案记录。

•   结合电动样本旋转平台，系统的晶体定位程序变得更简单、更灵活。

•   采集软件从电脑提供准备好索引的数字图像到Linux程控设备，系统利用Orient Express软件分析图像，获得晶向或用已知结构对现有晶体进行标引。

集成光束准直到数字劳厄探测器，比薄膜图案采集快10倍以上

• 数字劳厄探测器允许比薄膜更快的收集

• 相机系统可安装铜、钼或者钨靶X光源（长细聚焦、细聚焦或者点聚焦）。X光源在相机内准直后直接照射到样品上，可与高灵敏度偏振片的净磁通增益相当。根据晶体材料和使用光源，可以在1至30秒曝光后记录劳厄图案。

  数字化X射线劳厄探测器可以在一小时内安装，替代传统的偏振劳厄感光片

• 数字劳厄相机配备了综合校准套件，技术人员/工程师可以对传统的胶片暗盒探测器进行升级换代。

• 准直器的选择，可以让你根据测量晶体种类选择正确的通量/分辨率。

• 标准数字化劳厄相机比高灵敏度偏振片减少了两倍的数据采集时间。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途