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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

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日本电子株式会社 进口 透射电镜TEM

JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

  • JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
  • JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

产品型号:JEM-ARM200F

品牌:日本电子株式会社

产品产地:日本

产品类型: 进口

原制造商:日本电子

状态: 在售

厂商指导价格: 未提供

英文名称:TEM

上市时间: 2009-03-25

优点: 标配球差校正,原子分辨分析型透射电镜,拥有世界最高的STEM-HAADF像分辨率(78pm)

参考成交价格: 200~400万元[美元]

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材料说明

日期 合同名称 数量 合同金额 币种
2016-06-29 中山大学化学院球差校正透射电 1 2,100,000美元
2011-09-28 中国科学院物理研究所双球差校 1 3,417,000美元

标签

  • 分辨率:STEM 82pm
  • 放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x
  • 加速电压: 200-80 kV
  • 样品尺寸:3mmΦ
  • 移动范围:X,Y: ±1mm Z: ±0.1mm

厂家资料

地址:北京市西城区阜外大街2号万通新世界广场B-1110

电话:400-656-7980 转 1000

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