JEM-2200FS 透射电子显微镜

• JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能，不仅可以进行样品中的元素分析，还能分析化学结合状态，从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。

• JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。 利用过滤器的功能，不仅可以进行样品中的元素分析，还能分析化学结合状态，从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。

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• 镜筒内置式Omega过滤器

• 镜筒内置式能量过滤器能获取高精度的能量过滤像及电子能量损失谱，优化设计的过滤器能提供无畸变的过滤像。

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• 控制系统

• 电子枪、透镜、过滤器等电子光学系统、测角台、抽真空系统等全部由计算机控制。系统的稳定性高，因此能获得稳定的数据

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• 成像系统

• 采用四级中间镜和两级投影镜的新成像系统，在很大的倍率和相机长度范围，实现了TEM像及衍射花样的磁转角补偿（无磁转角）。

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• 压电陶瓷控制测角台

• 新的测角台采用了压电陶瓷控制，方便操作原子级的视场搜索。

　　用LCD直接观察图像，无须暗室

　　丰富的图像处理和计算机分析功能