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JEM-3100F 场发射透射电子显微镜

tel: 400-6699-117 6205

日本电子透射电镜TEM, 采用zei先进的数字化控制系统,操作更简单。应用范围非常广泛

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  点分辨率:0.17nm

  线分辨率:0.1nm

  STEM :0.14nm

  电子枪 :肖特基式热场发射枪

  亮度 :7x108A/cm2sr以上

  束流强度:0.5nA 以上/1nm

  放大倍数:x60 - x1,500,000

  能谱立体角:0.13sr


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地址:北京市西城区阜外大街2号万通新世界广场B-1110

电话:400-6699-117 转 6205

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