JEM-3100F 场发射透射电子显微镜

　　分辨率达到0.17nm,是这一级别电镜中zei好的。

　　理想的分析用高亮度,高稳定性的肖特基电子枪。

　　zei新的5轴马达驱动测角器加强样品台精确度。

　　操作简易的全数字化控制。

　　加载JEOL生产的扫描透射(STEM)系统和能谱仪(EDS)可升级为支持微区元素分析。

　　JEM-3100F 场发射透射电子显微镜是这一级别电镜中zei好的一款,分辨率可达0.17nm.如此高的分辨率在纳米材料研究领域效果突出.控制系统使用艺术级的数字技术, 充分强化了操作的简易性。