赛默飞K-Alpha+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统

Thermo Scientific™ K-Alpha™ X光光电子能谱仪于2006年问世，将整合式自动化的表面分析仪器带入到高质量、高效率的分析新纪元，直觉式的操作让使用更简单，并且拥有XPS的分析能力与成果，让愈来愈多的研究人员更容易进入表面分析的领域。

新一代的K-Alpha+™提升了更快速与更高的XPS侦测能力和较佳的化学组态解析结果，此外，分析软件增加新的eSP和KnowledgeView功能，提升Peak Fitting与光谱分析的能力。选配新功能包括真空传送组件(Vacuum Transfer Module)和MAGCIS™ dual mode离子枪开启了实验新契机(oil-resistant coatings on touch screens, measuring plasma deposited coatings of bio-medical devices, or understanding organic LEDs or solar cells, or surface cleaning on softer materials such as polymers, or organic FET, etc)。

特 点：

●  分析应用多(Glass coatings, Polymers, Batteries, Graphene, Solar cells, OLEDs, Metals & oxides, Bio-surfaces, Thin films, Semiconductors, Ceramics, Catalysts, etc)

●  提供High Performance XPS Spectroscopy, Insulator Analysis, Chemical State Imaging, Depth Profiling, Precise results quickly and efficiently

　　创新设计的传输透镜与高通量X射线源相组合，以及优化的几何结构确保所有分析类型有zei高灵敏度。

　　多通道检测进一步提高了灵敏度，实现了快照谱采集,适用于快速剖析和扫描成像。

　　对于微区分析和XPS成像，单色化X射线束可聚焦成小束斑，提供30微米的zei佳横向分辨率。定量化的XPS成像在每个像素都包括一个能谱，可进行峰拟合以揭示化学态分布。

　　K-Alpha配置低能高通量的离子源用于深度剖析，低能溅射结合方位角旋转可产生具有优异深度分辨率的剖析图。