AFM-拉曼系统(Raman-AFM System)

您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

挑选zei佳系统

inVia具有极大的灵活性；雷尼绍能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：

• Bruker Nano Surfaces

• Nanonics

• NT-MDT

• JPK

• Park

选择您需要的zei好的SPM/AFM。

• AFM topography image (A) and TERS image (B) of carbon nanotubes [gen]

TERS：针尖增强拉曼散射

所选的inVia-AFM系统能够实现针尖增强拉曼散射 (TERS)。这种令人兴奋的技术利用尖锐的等离子体针尖，获得纳米尺度的化学信息。

TERS扫描成像是对StreamLine™和StreamHR™的补充，您可以以您需要的分辨率研究样品。

zei大效率

雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。利用反射镜引导光，提供比光纤的光学耦合更高的效率。您可以更快并以更高的信噪比获得光谱。

校正很容易。所有的联用系统均提供具有白光照明的内置摄像头，您可以同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑，这对TERS工作非常重要。

相同的位置，相同的时间

您可以相信数据的可靠性。可以不移动样品而从相同的点同时采集拉曼和AFM数据。这样就确保了数据的一致性，即使您的样品随时间发生变化。

一套联用系统

分析是定位共同点的。您无需在系统间移动您的样品，然后费力地寻找相同的关注点。

两名使用者可以同时且独立地操作inVia和SPM/AFM，而且不会影响这两台仪器的任何性能。您拥有一台拉曼系统、一台SPM/AFM系统和一套拉曼-SPM/AFM联用系统。

挑选zei佳系统

雷尼绍SPM专家很愿意与您讨论您的特殊需要，并向您推荐zei佳方式，将inVia整合到您选择的SPM/AFM系统中。请联系我们，了解这项技术怎样深化您对纳米尺度的理解。

　　AFM-拉曼(即SPM-拉曼)联用仪器通过分析材料的化学结构，进一步深化了对亚微米尺度材料的分析研究。

　　增强您对纳米尺度结构的了解

　　雷尼绍开发了优化的直接耦合技术，使inVia显微拉曼成为与多种SPM联用的理想搭配，具有针尖增强拉曼散射 (TERS)、近场技术 (SNOM,  NSOM) 和拉曼-AFM等能力。

技术特点：

　　AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中，在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。

　　高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。

　　反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。

　　电冷至-70℃的CCD，用于光谱探测和成像。

　　也可选用APD来进行光子计数。

　　在激发通道和检测通道中，用户可灵活方便的配置偏光光路。

　　多功能的集成软件控制系统，所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等，都可由软件来切换或调节。