理学 全新智能型X射线衍射仪 NEW SmartLab

　　技术参数

　　• 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶

　　• 2、测角仪为水平测角仪

　　• 3、测角仪zei小步进为1/10000度，zei高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学zl)

　　• 4、测角仪配程序式可变狭缝

　　• 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学zl)

　　• 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学zl) 

　　• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

　　• 8、多用途薄膜测试组件

　　• 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件

　　• 10、In-Plane测试组件(理学独有)

　　• 11、入射端Ka1光学组件

　　• 12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

　　• 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)

　　• 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(zl)

1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶  2、测角仪为水平测角仪  3、测角仪zei小步进为1/10000度 4、测角仪配程序式可变狭缝  5、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror） 6、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）  7、靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选   8、测角仪半径:300mm

参考技术指标：

杭州电子科技大学 电镜等设备 QSZB-H-C17126HDZ

一、工作条件

1.电源：220V&380V（±10％），50Hz；

2.环境温度：20±5℃；

3.相对温度：＜75%；

4.连续工作时间：连续操作。

二、技术参数

1.X射线发生器

★1.1 zei大输出功率：≥9kW；

1.2 管电压：20-45kV；

1.3 管电流：10-200mA；

1.4 X射线防护当量：0.5mm铅当量；

1.5 连锁保护。

2.旋转阳极靶

2.1 靶材：Cu靶1个；

2.2 灯丝尺寸：≤0.4x8mm；

2.3 灯丝9根。

3.测角仪

3.1 扫描方式:/方式；

3.2 角度重现性：+/-0.0001度；

3.3 zei小可控步长：0.0001度；

★3.4 测角仪半径：≥300mm；

3.5 光学编码：双光学编码，测角仪入射轴和接收轴分别直接定位；

3.6 马达驱动：交流伺服马达驱动，闭环反馈控制；

★4.程序式自动可变狭缝，范围如下：

4.1 程序式自动入射狭缝，可变范围≥0.05-7mm（0.01mm/步）；

4.2 程序式自动接收狭缝，可变范围≥0.05-7mm（0.01mm/步）；

4.3 程序式自动防散射狭缝，可变范围≥0.05-7mm（0.01mm/步）。

5.器件识别和安装

5.1 所有器件具有ID自动识别标识，通过传感器自动识别；

5.2 附件采用“一触式”连接技术。

6.标准样品台

6.1 自带Z轴，可在垂直方向上自动调整样品位置；

6.2 调整范围：≥10mm；

★6.3 zei小步进：0.0005mm。

7.闪烁计数器

★7.1 探测器类型：NaI闪烁计数器；

7.2 动态范围：1x106cps。

8.半导体直读阵列探测器

8.1 提高测试强度和测试速度250倍以上；

8.2 能量分辨率：≤20%；

8.3 单道动态范围：≥106cps；

8.4 动态范围：≥109 cps；

★8.5 测器条带≥250；

★8.6 探测器活性面积：≥380mm2；

8.7 测试模式：包括高强度和高分辨测试模式。

9.标准样品板：120个；

10.软件：

10.1 通过智能引导软件控制，系统可以自动判断测试时需要更换的组件和测量条件，并自动对光路、样品位置进行调节；

10.2 配备专家数据库系统，并根据样品情况给出zei合适的测试条件软件；

10.3 可进行设备控制。数据采集，数据处理，分峰拟合，图形处理软件应能够进行自动物相鉴定及打印结果报告；

10.4 应用分析软件包括定性分析、定量分析、晶粒大小测量、晶胞参数测量、结晶化度测量等功能，包括无标样定量分析功能。

11.配套计算机：主频至少3.0GHz，4GB内存，1TB硬盘，不小于22”显示器，DVD-RW可擦写光驱，Windows8以上系统，HP或同档次品牌激光打印机；

12.水冷系统

12.1 分体式循环水冷系统，具有过热保护系统；

12.2 工作要求：连续工作；

12.3 控温精度：优于±1℃；

12.4 供水流量：满足9KW发生器工作要求；

12.5 水温度可调。

三、其他

1.设备到达采购人现场后，在接到采购人通知一周内，中标方安排有经验的工程技术人员到采购人现场安装、调试，按验收指标逐项测试至到达到验收要求，设备的安装调试需在接到采购人通知后30日内完成；

2.技术培训：设备安装调试合格后，中标方工程师在采购人现场对采购人人员进行操作及日常维护培训，直到采购人人员能独立操作；

3.维修响应时间：中标方应在24小时内对采购人的服务要求作出响应，如果需要上门服务，保证在3个工作日内到达采购人现场；

4.提供使用手册、专用工具和备品备件。

参考招标参数：中国科学院2018年仪器设备部门集中采购项目（第一批）

招标编号：OITC-G180260376-1

第8包 生物能源催化研究实验平台 (多功能X射线衍射仪)

1. 工作条件：

1.1 见总则第3条。

2. 设备用途及基本要求

该仪器采用当前世界先进技术, 能够精确地对各种多晶样品进行物相定性定量分析，无标样定量分析、Rietveld结构精修、粉末衍射花样解结构，薄膜材料的物相、次序、厚度、密度、粗糙度分析，纤维素结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析、介孔材料孔径测定、纳米颗粒度测定。要求配置长寿命X光管、X射线发生器、高精密测角仪、二维阵列探测器、原位高温、原位低温、原位反应、原位电池、薄膜反射率、微区附件、小角散射附件、自动进样器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和ICDD2018 PDF4+数据库。

3. 技术参数

3.1 X光源系统

★3.1.1 X-射线发生器:

最大输出功率:≥3kW；

   高压稳定度: ±0.01% (外电路波动±10%)。

3.1.2 X-射线光管: Cu靶 

    最大电流: ≥50mA；

最大电压: 60kV。

3.2 测角仪系统

3.2.1 测角仪：采用光学编码器技术，测角仪垂直放置；

3.2.2 扫描方式：q/q模式；

3.2.3 最小步进: 1/1000°；

3.2.4 角度重现性: 1/10000°；

3.2.5 测角仪半径: ≥200mm；

3.2.6 2q扫描范围: 不小于-3° to 160°。

3.3 样品台：必须配备标准粉末样品台，程序控制样品台，透射样品台，以满足物相的定性定量分析、薄膜掠入射分析、薄膜反射率分析、微区分析、小角散射分析等应用测试需要。

3.4 光学系统

#2.4.1 应具有平行光路系统和聚焦光路双光路系统，平行光路应保证足够X光强度；

3.4.2 光学系统必须满足物相的定性定量分析、薄膜掠入射分析、薄膜反射率分析、微区分析、小角散射分析等各项功能应用。

#3.5 二维探测器系统

3.5.1 探测器模式：硅阵列光子直读模式；

3.5.2 工作模式支持：零维、一维和二维模式，程序切换。

#3.6 原位反应高温附件

3.6.1 温度范围：25~900℃；

3.6.2 气氛：真空（1mbar）、空气、惰性气体、反应气体三种气氛；

3.6.3 压力范围：1mbar到10bar；

3.6.4 封闭不锈钢样品杯和开口陶瓷样品杯（气固反应用），各1个。

#3.7 原位高温附件

3.7.1 温度范围：室温~1200℃；

3.7.2 气氛：空气、惰性气体、真空三种气氛；

3.7.3 加热模式：环境加热。

★3.8 低温液氮系统

3.8.1 温度范围：-180~450℃；

3.8.2 气氛：空气、惰性气体和真空（10^-2mbar）三种气氛；

3.8.3 最大操作压力：2bar。

3.9  小角散射附件

3.9.1 SAXS分析专用透射样品台；

3.9.2 专用光路配置，适合于进行微细粒子如纳米材料等的散射、晶格面间距大的样品的衍射、长周期以及粒径的分布测试。

3.10 微区应用附件

#3.10.1 光源上，采用全反射单毛细管透镜或准直管X射线强度优先模式；

3.10.2 全自动样品台；

3.10.3 定位系统：CCD视频定位。

3.11 自动进样器

3.11.1 样品个数：不少于8位；

3.11.2 易装卸，不影响其他样品台、原位附件的安装和使用。

3.12 原位充放电电池附件

3.12.1 原位电池附件用于电池充放电过程的原位XRD测量；

3.12.2 温度范围：实际测试温度不少于-20℃～70℃；

3.12.3 电极：正极和负极。

3.13 提供2018年正版PDF4+ 数据库及配套物相检索软件Sleve+，且包含PDF4+ scholar10年使用权。

3.14 计算机系统及仪器控制和分析软件,标准数据库

3.14.1 计算机控制系统:

计算机配置:不低于四核主频3.1G Hz，8G内存，硬盘1T,40倍速以上可刻录光驱,22英寸LCD显示器,激光打印机。

3.14.2 软件为Windows操作平台，可进行设备控制，数据采集，授权安装在3台计算机上。

3.14.3 应用分析软件应具备对各种多晶样品进行物相定性定量分析，无标样定量分析、Rietveld结构精修、粉末衍射花样解结构，薄膜材料的物相、次序、厚度、密度、粗糙度分析，纤维素结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，微区分析、介孔材料孔径测定、纳米颗粒度测定等功能。

3.15 外部冷却水系统(分体式)

 内置冷却剂非风冷方式，满足仪器满功率运行；

 温度范围：5~35°C; 温度稳定度：±0.5°C。

4. 配置

4.1 主机(按上述技术标书配置)一套；计算机/打印机各一套。

4.2 辅助设备:

4.2.1 外部冷却水系统(分体式):内置冷却剂非风冷方式，满足仪器满功率运行。

4.2.2 电脑和打印机。

4.3. 专用工具一套。

5. 技术服务

5.1 保修期，用户验收通过后整机保修1年。

5.2 由供应商提供用户操作手册及安装维护手册和各种相应说明书。供应商在广州有完善的售后服务系统：卖方专业工程师实施免费安装,调试。保修期内免费维修,提供仪器终身维修维护服务。有完善的人员培训计划：提供教材,免费现场培训免费。

6. 订货数量：

一套

7. 目的港：

中国科学院广州能源研究所用户指定地点

8. 交货日期：

  收到信用证后3个月内

9. 执行的相关标准

无